【PCT高壓加速試驗(yàn)箱  高溫蒸煮試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特點(diǎn)】
1.采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率；
2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞；
3.門(mén)鎖省力結(jié)構(gòu)，解決一代產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4.試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；
5.超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)1000小時(shí)；
6.水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；
7.tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg；
8.二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置；
9.安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕；
10.全觸控式控制器，支持U盤(pán)導(dǎo)出歷史記錄。

PCT高壓加速試驗(yàn)箱  高溫蒸煮試驗(yàn)機(jī)是一種用于模擬環(huán)境條件的測(cè)試設(shè)備，它主要用于評(píng)估材料和產(chǎn)品在高溫、高濕和壓力環(huán)境下的性能和可靠性。以下是PCT高壓加速試驗(yàn)箱的一些主要應(yīng)用場(chǎng)景：

半導(dǎo)體封裝測(cè)試：用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝的抗?jié)駳饽芰ΑＴ趪?yán)苛的溫濕度和壓力條件下，可以觀察濕氣是否能夠滲透封裝體，導(dǎo)致封裝失效，如金屬化區(qū)域腐蝕、斷路或短路等問(wèn)題。

電子元器件測(cè)試：對(duì)電子元器件進(jìn)行壓力加熱處理，以模擬實(shí)際使用中可能遇到的惡劣條件，評(píng)估其在高溫高濕環(huán)境下的性能、可靠性和耐久性。

線路板測(cè)試：對(duì)印刷線路板（PCB & FPC）進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)和高壓蒸煮試驗(yàn)，以評(píng)估其在高濕度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品的密封性能和耐壓性測(cè)試：這些產(chǎn)品在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程中需要確保其密封性和耐壓性，以保證在各種環(huán)境條件下的正常工作。

加速老化壽命試驗(yàn)：通過(guò)提高環(huán)境應(yīng)力（如溫度）和工作應(yīng)力（如施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間，以快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

其他領(lǐng)域：PCT高壓加速試驗(yàn)箱還可應(yīng)用于電子元器件、紡織品、醫(yī)療器械等領(lǐng)域的老化測(cè)試，以確保這些產(chǎn)品在長(zhǎng)期惡劣條件下的可靠性。

這些應(yīng)用場(chǎng)景體現(xiàn)了PCT高壓加速試驗(yàn)箱在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、質(zhì)量控制和可靠性評(píng)估中的重要性。通過(guò)這些測(cè)試，可以確保產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的穩(wěn)定性和長(zhǎng)期性能。