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描述:hast高加速試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于進(jìn)行電子元器件可靠性測試的設(shè)備,主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境,以評估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。HAST高加速試驗(yàn)箱通過提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應(yīng)力,加速電子元器件的老化過程。它采用高壓飽和蒸汽的方式,將樣品暴露在高溫高濕條件下,并施加一定的電壓或電流,以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件
品牌 | 德祥儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,冶金,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃~+147℃ |
濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH |
使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動均勻度? | ±0.1Kg |
hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn):
1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),降低了使用故障率。
2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3)門鎖省力結(jié)構(gòu),解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4)試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5)超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間,長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).
6)水位保護(hù),透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7)tank耐壓設(shè)計(jì),箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8)二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.
9)安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10)偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配)
11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.
hast高加速試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于進(jìn)行電子元器件可靠性測試的設(shè)備,主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境,以評估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。
hast高加速試驗(yàn)箱通過提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應(yīng)力,加速電子元器件的老化過程。它采用高壓飽和蒸汽的方式,將樣品暴露在高溫高濕條件下,并施加一定的電壓或電流,以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件和電氣應(yīng)力。
在HAST高加速試驗(yàn)中,樣品通常被放置在密封的試驗(yàn)室中,試驗(yàn)箱具備溫度、濕度和壓力等參數(shù)的控制功能。通過加速老化過程,可以更快地觀察到可能出現(xiàn)的故障和退化現(xiàn)象,以便制造商及早發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。
HAST高加速試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測試中。通過該設(shè)備,可以評估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能和壽命特性,從而提高產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和穩(wěn)定性,滿足市場需求和用戶期望。
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